Подробная программа школы будет опубликована позднее
Примерный план занятий:
Часть 1: Ионно-пучковые технологии
- Взаимодействие ионных пучков с массивными телами, поверхностью и наноструктурами
- Взаимодействие заряженных частиц с твердым телом
- Ионная имплантация и радиационно-индуцированные эффекты
- Использование ионных пучков для синтеза и модификации отдельных наноструктур и их массивов.
- Распыление. Формирование рельефа поверхности.
- Применение модифицированных ионным облучением структур в различных областях и технологиях.
- Компьютерное моделирование в области ионно-пучковых технологий
- Метод бинарных столкновений
- Метод молекулярной динамики
- Потенциалы межатомных взаимодействий: виды, применимость, достоверность
- Моделирование зарядового обмена
- Количественный анализ экспериментальных данных
- Газовые кластерные ионы
- Формирование пучков кластерных ионов. (Конденсация в сверхзвуковых потоках. Ионизация и ускорение кластеров. Методы масс-сепарации)
- Физика взаимодействия ускоренных кластеров с поверхностью. (Распыление кластерными ионами. Имплантация и дефектообразование)
- Применение газовых кластерных ионов в науке и технологии. (Модификация рельефа поверхности. Имплантация на сверхмалые глубины. Кластеры для биомедицины).
Часть 2: Ионно-пучковые методы анализа
- Упругое взаимодействие
- Основные принципы анализа при помощи ускоренных ионных пучков.
- Тормозные способности и пробеги частиц в веществе.
- Резерфордовское и нерезерфордовское рассеяние, как метод анализа поверхности материалов
- Каналирование ионов, как метод анализа кристаллов.
- Спектрометрия ядер отдачи
- Анализ по продуктам ядерных реакций
- Физика взаимодействия заряженных частиц с атомными ядрами.
- Методы анализа по продуктам ядерных реакций.
- Анализ по гамма-излучению, возбуждаемому ускоренными ионами.
- Ядерные данные для анализа на ионных пучках
- Оценка сечений, используемых для анализа на ионных пучках.
- Валидация сечений.
- Интернет ресурсы ядерно-физических данных.
- Применение
- Анализ водорода ядерно-физическими методами.
- Микропучки и их применение.
- Проблемы и ошибки при использовании ускоренных пучков для анализа материалов.
- Практическое занятие.
- Интерпретация измеренного спектра.
- Анализ спектра при помощи программы SIMNRA